CIX-70M智能分析系统：采用材料显微镜，软件依据 VDA19及ISO16232规范，上下EDF对焦方式，可对颗粒进行高度测量

CIX-70M智能清洁度分析系统是**滤膜法全自动颗粒显微分析设备**，用于零部件清洁度检测的后端分析，和 AIX‑JY 自动萃取清洗设备配套使用；将萃取后滤膜放入设备，自动完成滤膜扫描、颗粒识别、分类统计、报告输出，满足 VDA19.1、ISO16232、GB/T3821 等清洁度标准。